بهعنوان تامینکننده سیستمهای تشخیص ذرات نانو، یکی از سوالات متداول مشتریان ما این است: "چقدر طول میکشد تا یک سیستم تشخیص ذرات نانو به نتیجه برسد؟" این سوال بسیار مهم است زیرا به طور مستقیم بر کارایی و عملی بودن استفاده از چنین سیستمی در صنایع مختلف، از نظارت بر محیط زیست گرفته تا تحقیقات پزشکی، تاثیر می گذارد.
عوامل موثر بر زمان نتیجه
مدت زمانی که طول می کشد تا یک سیستم تشخیص ذرات نانو به نتیجه برسد تحت تأثیر عوامل متعددی است. اولین و مهمترین روش تشخیص به کار گرفته شده است. چندین تکنیک برای تشخیص ذرات نانو وجود دارد که هر کدام ویژگیهای منحصر به فرد و نیازهای زمانی خاص خود را دارند.


یکی از روش های رایج پراکندگی نور دینامیک (DLS) است. DLS حرکت براونی ذرات را در محلول اندازه گیری می کند. هنگامی که یک پرتو لیزر از نمونه عبور می کند، نور پراکنده تشخیص داده می شود و اندازه ذرات بر اساس نوسانات شدت نور پراکنده محاسبه می شود. زمان مورد نیاز برای اندازه گیری های DLS بسته به پیچیدگی نمونه و سطح دقت مورد نظر می تواند متفاوت باشد. به طور کلی، اندازه گیری اولیه DLS را می توان در عرض چند دقیقه کامل کرد. با این حال، اگر نمونه دارای طیف گسترده ای از اندازه ذرات باشد یا اگر نتایج با دقت بالا مورد نیاز باشد، زمان اندازه گیری ممکن است به 10 تا 15 دقیقه افزایش یابد.
روش محبوب دیگر میکروسکوپ الکترونی انتقالی (TEM) است. TEM تصاویری با وضوح بالا از تک تک نانوذرات ارائه می دهد که امکان تجزیه و تحلیل دقیق اندازه، شکل و ساختار آنها را فراهم می کند. اما این روش زمان بر است. آماده سازی نمونه برای آنالیز TEM می تواند چندین ساعت طول بکشد، از جمله مراحلی مانند تثبیت نمونه، رنگ آمیزی و نصب. هنگامی که نمونه آماده شد، خود فرآیند تصویربرداری نیز می تواند نسبتا کند باشد، زیرا پرتو الکترونی باید ناحیه نمونه را اسکن کند. به طور کلی، به دست آوردن نتایج از یک تشخیص ذرات نانو مبتنی بر TEM می تواند از نیم روز تا یک روز کامل طول بکشد.
میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) نیز به طور گسترده برای تشخیص نانو ذرات استفاده می شود. مشابه TEM، SEM تصاویر دقیقی از نانوذرات ارائه می دهد. با این حال، SEM به طور کلی فرآیند آماده سازی نمونه سریع تری نسبت به TEM دارد. آمادهسازی نمونه برای SEM معمولاً حدود یک ساعت یا کمتر طول میکشد و زمان تصویربرداری بسته به حجم نمونه و سطح جزئیات مورد نیاز میتواند از 15 دقیقه تا یک ساعت متغیر باشد.
ماهیت خود نمونه نیز نقش بسزایی در تعیین زمان نتیجه دارد. نمونه هایی با غلظت بالای نانوذرات ممکن است به زمان اندازه گیری طولانی تری برای اطمینان از تجزیه و تحلیل دقیق نیاز داشته باشند. علاوه بر این، اگر نمونه حاوی ناخالصی ها یا ماتریس های پیچیده باشد، ممکن است زمان بیشتری برای جداسازی و تجزیه و تحلیل نانوذرات طول بکشد. به عنوان مثال، در نمونه های محیطی مانند هوا یا آب، وجود گرد و غبار، آلاینده ها و سایر آلاینده ها می تواند فرآیند تشخیص را پیچیده کرده و زمان نتیجه را افزایش دهد.
برنامه های واقعی - جهانی و زمان نتایج
در صنایع مختلف، زمان نتیجه قابل قبول برای یک سیستم تشخیص ذرات نانو متفاوت است. در صنعت داروسازی، جایی که کنترل کیفی فرمولاسیون دارویی حیاتی است، نتایج سریع و دقیق ضروری است. به عنوان مثال، در توسعه سیستم های دارورسانی مبتنی بر نانوذرات، اندازه و توزیع نانوذرات می تواند به طور قابل توجهی بر کارایی و ایمنی دارو تأثیر بگذارد. با استفاده از یک سیستم تشخیص مبتنی بر DLS، نتایج را می توان در عرض چند دقیقه به دست آورد که امکان تنظیم سریع فرآیند فرمولاسیون را فراهم می کند.
در پایش زیست محیطی، تشخیص نانوذرات در هوا یا آب برای ارزیابی سطوح آلودگی و خطرات بالقوه سلامتی بسیار مهم است. در اینجا، زمان مورد نیاز برای تشخیص می تواند به روش نمونه گیری و پیچیدگی نمونه بستگی داشته باشد. به عنوان مثال، اگر نمونههای هوا با استفاده از نمونهبردار با حجم بالا جمعآوری شوند، تجزیه و تحلیل نانوذرات جمعآوریشده ممکن است به دلیل مقدار بیشتر مواد بیشتر طول بکشد. با این حال، با تکنیک های پیشرفته تشخیص، نتایج را می توان در عرض چند ساعت به دست آورد و تصمیمات مدیریت زیست محیطی به موقع را ممکن می سازد.
در زمینه علم مواد، مطالعه نانوذرات برای توسعه مواد جدید با خواص منحصر به فرد ضروری است. هنگام مشخص کردن نانوذرات در یک ماده جدید، انتخاب روش تشخیص به اهداف تحقیقاتی خاص بستگی دارد. در صورت نیاز به تصویربرداری با وضوح بالا، ممکن است از TEM یا SEM استفاده شود که ممکن است زمان بیشتری طول بکشد. از سوی دیگر، اگر ارزیابی سریع توزیع اندازه ذرات مورد نیاز باشد، DLS می تواند نتایج را در زمان نسبتاً کوتاهی ارائه دهد.
سیستم تشخیص ذرات نانو ما
در شرکت ما، طیف وسیعی از سیستمهای تشخیص ذرات نانو را ارائه میکنیم که برای رفع نیازهای متنوع مشتریان طراحی شدهاند. سیستم های ما مجهز به فناوری پیشرفته و رابط های کاربر پسند هستند که تشخیص دقیق و کارآمد را تضمین می کند.
برای مشتریانی که به نتایج سریع نیاز دارند، سیستم های تشخیص مبتنی بر DLS ما یک انتخاب ایده آل هستند. این سیستم ها می توانند نتایج توزیع اندازه ذرات را در عرض چند دقیقه ارائه دهند و امکان نظارت و کنترل کیفیت را در زمان واقعی فراهم کنند. سیستمهای DLS ما نیز بسیار دقیق هستند و دامنه دینامیکی گستردهای دارند که آنها را برای کاربردهای مختلف مناسب میکند.
برای مشتریانی که به تصویربرداری با وضوح بالا و تجزیه و تحلیل دقیق نانوذرات نیاز دارند، سیستم های SEM و TEM ما در دسترس هستند. اگرچه این سیستم ها برای تولید نتایج بیشتر طول می کشد، اما جزئیات و دقت بی نظیری را ارائه می دهند. سیستم های SEM و TEM ما مجهز به فناوری تصویربرداری پیشرفته و نرم افزار پیشرفته برای تجزیه و تحلیل تصویر هستند که نتایج قابل اعتماد و جامعی را تضمین می کند.
محصولات مرتبط
ما علاوه بر سیستمهای تشخیص ذرات نانو، محصولات مرتبط دیگری را نیز ارائه میکنیم که میتوانند کارایی و دقت فرآیند شناسایی شما را افزایش دهند. مثلا ماسیستم مکان یابی خطای کابلمی تواند به شما کمک کند تا به سرعت عیوب کابل ها را شناسایی و پیدا کنید و از عملکرد قابل اعتماد سیستم های الکتریکی خود اطمینان حاصل کنید. ماسیستم نظارت بر خط جریان در حال گردش کابل گراندینگامکان نظارت بر زمان واقعی جریان اتصال به کابل را فراهم می کند و هشدارهای اولیه در مورد خطاهای احتمالی را ارائه می دهد. و ماسیستم مانیتورینگ آنلاین کابلنظارت جامعی بر شرایط کابل ارائه می دهد و به شما کمک می کند تا عملکرد و طول عمر کابل های خود را بهینه کنید.
برای خرید و مشاوره با ما تماس بگیرید
اگر به سیستمهای تشخیص ذرات نانو یا هر یک از محصولات مرتبط ما علاقه دارید، توصیه میکنیم برای اطلاعات بیشتر و بحث در مورد نیازهای خاص خود با ما تماس بگیرید. تیم کارشناسان ما آماده است تا اطلاعات دقیق محصول، پشتیبانی فنی و گزینه های قیمت را در اختیار شما قرار دهد. چه یک موسسه تحقیقاتی، یک شرکت داروسازی یا یک آژانس نظارت بر محیط زیست باشید، ما می توانیم به شما کمک کنیم تا مناسب ترین راه حل تشخیص را برای نیازهای خود پیدا کنید.
مراجع
- FA Morrison، "مقدمه ای بر پراکندگی کلوئیدی"، جان وایلی و پسران، 2002.
- PC Hiemenz و R. Rajagopalan، "اصول کلوئید و شیمی سطح"، Marcel Dekker، 1997.
- JP Wilcoxon و RL Martin، "Nanoparticle Characterization"، CRC Press، 2006.
